型号:BQ2650X-TESTER | 类别:过时/停产零件编号 | 制造商:Texas Instruments |
封装: | 描述:SYSTEM TEST FOR BQ26500/BQ26501 |
详细参数
类别 | 过时/停产零件编号 |
---|---|
描述 | SYSTEM TEST FOR BQ26500/BQ26501 |
系列 | - |
制造商 | Texas Instruments |
ADC数 | |
DAC数 | |
主要用途 | |
传感器类型 | |
模块/板类型 | |
每IC通道数 | |
类型 | |
转换自111适配器端222 | |
配件类型 | |
位数 | |
嵌入式 | |
应用 | |
感应范围 | |
放大器类型 | |
转换至111适配器端222 | |
输出和类型 | |
配套使用产品/相关产品 | |
不同负载时的最大输出功率x通道数 | |
使用的IC/零件 | |
内容 | |
功率_输出 | |
安装类型 | |
接口 | |
输出类型 | |
采样率111每秒222 | |
主要属性 | |
压摆率 | |
封装/外壳 | |
数据接口 | |
灵敏度 | |
特性 | |
电压_电源 | |
电压_输出 | |
_3db带宽 |
供应商
现代芯城(深圳)科技有限公司 | 董0755-82542579 |
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